Snapdragon 670 впервые протестирован в Geekbench

05.01.2018 12:26 0

Snapdragon 670 впервые протестирован в Geekbench

Не так давно стали известны примерные характеристики нового среднего уровня чипа Snapdragon 670. Сама SoC создавалась по 10-нанометровому техпроцессу на заводах Samsung и на данный момент идет ее тестирование, после чего стартует серийное производство. И хотя ждать первые смартфоны с этой платформой на борту еще достаточно долго, узнать некоторые ее особенности и производительность позволило ее попадание в бенчмарк Geekbench.

Синтетический тест говорит в пользу того, что чип обладает 8 вычислительными ядрами, разогнанными до минимальной частоты 1,7 ГГц. Прототип смартфона с 6 Гб оперативной памяти и ОС Android 8.1 Oreo на борту набрал 1863 балла в одноядерном тесте и 5256 в многоядерном. И этот результат лучше того, что демонстрировал флагманский Snapdragon 821.

Является ли новая платформа мощнее предшественника Snapdragon 660? Делать однозначные выводы еще преждевременно. Это только первый результат теста и, как всегда, все будет решать оптимизация. По итогам испытаний тех немногочисленных моделей, что базируются на Snapdragon 660, они в среднем набирают 1700/5770 баллов.

Snapdragon 670 впервые протестирован в Geekbench

По той информации, что известна на сегодняшний день, Snapdragon 670 получил графику Adreno 620, поддержку оперативной памяти типа LPDDR4x, двойных камер до 13 Мп или одинарного модуля на 26 Мп, а также модем X16 LTE.

Источник

Следующая новость
Предыдущая новость

Онлайн магазин химических веществ Ремонтная мастерская для планшетов и iPad Виртуальный покер с реальным банком Разработка сайтов в Краснодаре Быстрый ремонт Айфона

Последние новости